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IONTOFジャパン株式会社
Support
Products
M6
M6 Plus
M6 Hybrid SIMS
Qtac
SurfaceLab 7
TOF-SIMS & LEIS Technique
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Semiconductor
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Paints and Coatings
Biomaterials
Pharmaceuticals
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Metals
Catalysts
Disclaimer
IONTOFジャパン株式会社
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Products
SIMS Instrumentation
(Note: This information is provided on our international webpage)
M6
The latest, multi-purpose instrument guaranteeing superior performance in all application areas.
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M6 Product
M6 Plus
The M6 Plus platform combines high-end SIMS performance with in situ SPM capabilities.
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M6 Plus Product
M6 Hybrid SIMS
High performance TOF-SIMS and Orbitrap SIMS combination instrument ideally suited for organic SIMS application.
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M6 Hybrid SIMS Product
Low Energy Ion Scattering
Qtac
Extremely surface sensitive instrument, providing unique and quantitative characterization of the top atomic layer.
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Qtac Product
Software
SurfaceLab 7
Versatile instrument operation, data acquisition and data analysis software package for all IONTOF instruments.
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SurfaceLab 7 software
How it works
TOF-SIMS and LEIS
Learn more about how advanced surface analysis works.
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TOF-SIMS / LEIS technique
Applications
Applications
(Note: This information is provided on our international webpage)
Semiconductor
The detection and quantification of trace metals is an important analytical task in the semiconductor industry.
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Semiconductor applications
Polymer
Discolourations on polymers are often caused by phase separation of the material's components.
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Polymer applications
Paints and Coatings
Coatings are of increasing importance for many industrial products for reasons of decoration as well as stability.
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Paints and Coatings applications
Biomaterials
The ability to image molecular compounds with high special resolution is very useful for biological applications.
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Biomaterials applications
Pharmaceuticals
SIMS can be used to determine the distribution of the different ingredients within pharmaceutical products.
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Pharmaceuticals applications
Glass
TOF-SIMS is a very powerful technique for the analysis of non-conductive materials e.g. glass.
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Glass applications
Paper
Paper surfaces are treated to obtain special surface properties. These modifications can be investigated.
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Paper applications
Metals
One major advantage of TOF-SIMS is the opportunity to combine high lateral and high depth resolution.
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Metals applications
Catalysts
For catalysis the characterization of the top atomic layer is essential. LEIS is the ideal technique for this application.
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Catalysts applications
The IONTOF products
IONTOF製品の詳細については 国際的なページへのリンクをご参照ください。
外部リンク
The IONTOF product line
The M6
このIONTOF製品の詳細については、当社の国際的なウェブページへのリンクを参照してください。
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The M6
The M6 Plus
このIONTOF製品の詳細については、当社の国際的なウェブページへのリンクを参照してください。
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The M6 Plus
The M6 Hybrid SIMS
このIONTOF製品の詳細については、当社の国際的なウェブページへのリンクを参照してください。
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The M6 Hybrid SIMS
The Qtac
このIONTOF製品の詳細については、当社の国際的なウェブページへのリンクを参照してください。
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The Qtac
The SurfaceLab 7 sofware
このIONTOF製品の詳細については、当社の国際的なウェブページへのリンクを参照してください。
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The SurfaceLab 7 sofware
The TOF-SIMS / LEIS technique
このIONTOF製品の詳細については、当社の国際的なウェブページへのリンクを参照してください。
外部リンク
The TOF-SIMS / LEIS technique
